Muallif: Karimov, Sardor Yashinovich

Annotatsiya: Ushbu maqolada mis qotishmalarining SEM (skanerlash elektron mikroskopiyasi) tasvirlaridan foydalanib, donalar topologik yondashuv asosida klassifikatsiya qilindi. Topologik invariantlar, xususan, Euler xarakteristikasi, Betti sonlari, va persistent homology kabi tushunchalar orqali donalarning shakl va strukturasini tahlil qilish metodologiyasi taqdim etilgan. Tadqiqotda normal grains, porous grains, elongated grains, va fused grains kabi donalar turlari aniqlanib, ularning soni va taqsimoti o‘rganildi. Topologik yondashuv yordamida donalarning porozlik darajasi, deformatsiya va birikish xususiyatlari samarali tarzda aniqlanadi. Natijalar shuni ko‘rsatdiki, donalarning topologik xususiyatlarini tahlil qilish materiallarning sifatini baholash va ularning mexanik xususiyatlarini yaxshilashda muhim vosita sifatida ishlatilishi mumkin. Ushbu tadqiqot metallurgiya sohasida materiallarning sifatini, porozlik va deformatsiya darajalarini baholashda yangi yondashuvlarni ishlab chiqish uchun imkoniyatlar yaratadi. Shuningdek, topologik klassifikatsiyaning SEM tasvirlari bilan ishlashdagi samaradorligi va qo‘llaniladigan texnikalar o‘rganildi.

Kalit so'zlar: Topologik ma’lumotlar tahlili, skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM), donalarning topologik klassifikatsiyasi, Eyler xarakteristikasi, barqaror gomologiya, Betti sonlari, g‘ovak donalar, cho‘zilgan donalar, qo‘shilgan donalar, mikrostrukturaviy tahlil, hisoblash asosidagi materialshunoslik, tasvirlarni qayta ishlash, metallurgik materiallar, strukturaviy xususiyatlarni tahlil qilish.

Jurnaldagi sahifalar: 174 - 181