Автор: Zaynolobidinova, S.M.
Аннотация: В данной работе представлены результаты исследования влияния внешних воздействий на свойства тонких поликристаллических пленок. Представлены основные структурные свойства текстурированных поликристаллов и эффекты, определяющие атомную структуру границ кристаллитов.
Ключевые слова: кристаллит, поликристалл, кристаллография, технология, полупроводник, структура, дислокация, концентрация, вход, фазовые состояния
Страницы в журнале: 283 - 288
Кадиров Мухаммаджон